TDR波形測試步驟如下：

1. 準備測試設(shè)備：確保TDR設(shè)備（如Keysight E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀）支持TDR功能，并配備適當(dāng)?shù)男侍准?span style="font-family: inherit; font-size: inherit; font-style: inherit; font-variant-ligatures: inherit; font-variant-caps: inherit; font-weight: inherit;">。

   
   

2. 連接被測器件：使用同軸電纜將被測器件（如電纜、PCB走線）連接到TDR設(shè)備的測試端口，并根據(jù)需要端接處理。

   
   

3. 設(shè)置儀器參數(shù)：

   • 切換到時域模式（Time Domain）。
   • 選擇低通模式（LowPass）以適應(yīng)階躍響應(yīng)。
   • 設(shè)置時間窗口以覆蓋被測線路的長度。
   • 設(shè)置激勵帶寬以提高時間分辨率。
     

4. 校準儀器：執(zhí)行頻域校準（如SOLT校準）以消除系統(tǒng)誤差，并進行時域校準補償（可選）。

   
   

5. 進行TDR測量：

   • 設(shè)置觸發(fā)方式（如內(nèi)部觸發(fā)）。
   • 測量S11反射系數(shù)并觀察時域波形。
   • 通過反射系數(shù)計算阻抗，并定位阻抗不連續(xù)點。

6. 分析結(jié)果：

   • 識別故障點：正反射峰表示阻抗升高（如開路），負反射峰表示阻抗降低（如短路）。
   • 測量距離：將時間轉(zhuǎn)換為距離，計算故障點位置。

7. 保存與導(dǎo)出數(shù)據(jù)：保存波形圖像，并導(dǎo)出時域數(shù)據(jù)以供進一步分析。